Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
- Författare
- (Joseph I. Goldstein ..)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Kluwer Academic / Plenum | cop. 2003 | USA, New York | xix, 689 sidor., [5] pl.-s. i färg ill. 1 CD-ROM | 978-0-306-47292-3 |
| Plenum | cop. 1981 | USA, New York | xiii, 673 sidor. : diagr., ill. | 0-306-40768-X |